三豐WLI-Unit白光干涉光學(xué)單元顯微鏡

簡要描述：三豐WLI-Unit白光干涉光學(xué)單元顯微鏡，三豐 WLI-Unit-4nm非接觸式3D表面形狀測量輪廓測量顯微鏡原廠發(fā)貨

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更新時間：2025-02-21
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WLI-Unit-4nm非接觸式3D表面形狀測量輪廓測量顯微鏡ss001.jpg

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WLI-Unit-4nm非接觸式3D表面形狀測量輪廓測量顯微鏡ss003.jpg

WLI-Unit-4nm非接觸式3D表面形狀測量輪廓測量顯微鏡ss005.png

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  產(chǎn)品特點與優(yōu)白光干涉光學(xué)顯微
● 實現(xiàn)非接觸式3D表面形狀測量和輪廓測量
可利用白光干涉原理實現(xiàn)非接觸式高精度細微表面性狀測量
（例如：3D形狀測量、3D粗糙度測量）
● 不依賴于光學(xué)倍率的高度測量精度
即使是低倍率鏡頭，也可使用Z向高分辨力進行測量
● 高縱橫比測量
不依賴于光學(xué)系統(tǒng)的NA進行檢測，支持高縱橫比形狀測量
● 抗干擾震動的高穩(wěn)定性
● 小型輕便

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產(chǎn)品陣容
型號           Z向移動范圍    Z向分辨力
WLI-Unit-003   8000μm        -
WLI-Unit-005   8000μm        4nm
WLI-Unit-010   8000μm        4nm

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